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鐵電分析儀/電滯回線測試

簡要描述:研禾科技FETS-2000鐵電分析儀/電滯回線測試可用于材料鐵電性能測試中測試信號的輸出和反饋信號的收集,可進(jìn)行電滯回線測試、漏電流測試、疲勞測試、電擊穿強(qiáng)度測試、小信號電容測試、PUND測試、印痕測試、保持力測試等鐵電性能的檢測。

  • 產(chǎn)品型號:FETS-2000
  • 廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
  • 更新時間:2024-08-20
  • 訪  問  量:8603

詳細(xì)介紹

品牌其他品牌價格區(qū)間面議
產(chǎn)地類別國產(chǎn)應(yīng)用領(lǐng)域化工,地礦,能源,電子,航天
頻率范圍0.001Hz ~5kHz/10kHz/50kHz/100kHz/500kHz最大電荷解析度10mC,可擴(kuò)展
是否配高壓保護(hù)模塊內(nèi)置測試電壓±10/30/100/200/500VAC,可選
漏電流測量1 pA ~20 mA;可擴(kuò)展測量精度10 fA

FETS-2000是一款功能豐富的鐵電分析儀/電滯回線測試,可廣泛地應(yīng)用于如各種鐵電/壓電/熱釋電薄膜、厚膜、體材料和電子陶瓷、鐵電傳感器/執(zhí)行器/存儲器等領(lǐng)域的研究。

鐵電參數(shù)測試主要性能指標(biāo):

a. 內(nèi)置測試電壓可選±10/30/100/200/500VAC,可外接5 kV高壓放大器(可擴(kuò)展至10 kV)(國產(chǎn)、進(jìn)口均適用);

b. 動態(tài)電滯回線測試頻率范圍0.001Hz ~5kHz/10kHz/50kHz/100kHz/500kHz,頻率可選;

c. 最大電荷解析度:10 mC(可擴(kuò)展)

d. 疲勞測試頻率300 kHz(振幅10 Vpp,負(fù)載電容1 nF);

e. 漏電流測量范圍 1 pA ~ 20 mA(可擴(kuò)展),分辨率0.1 pA;

f. 配有高壓擊穿保護(hù)模塊。

本測試系統(tǒng)由主控器、高壓放大器、變溫綜合測試平臺(配鐵電測試盒)或高低溫探針臺(配高壓探針)、計(jì)算機(jī)及系統(tǒng)軟件部分組成。主控器集成了可編程波形發(fā)生器、內(nèi)置驅(qū)動電壓、電荷積分器、可編程放大器、模數(shù)轉(zhuǎn)換器、通訊總線等功能,主控器提供擴(kuò)展外置高壓放大器接口,可擴(kuò)展±5 kV或±10 kV的高壓放大器。系統(tǒng)軟件包括可視化數(shù)據(jù)采集和管理功能,測試時,無需改變測試樣品的連接,即可實(shí)現(xiàn)滯回,脈沖,漏電,IV等性能測試。

鐵電分析儀/電滯回線測試采用改進(jìn)的Sawyer- Tower測量方法,與傳統(tǒng)的Sawyer- Tower模式相比,此電路取消了外接電容,可減小寄生元件的影響。此電路的測試精度僅取決于積分器積分電容的精度,減少了對測試的影響環(huán)節(jié),容易定標(biāo)和校準(zhǔn),并且能實(shí)現(xiàn)較高的測量準(zhǔn)確度。

該系統(tǒng)測試功能:

動態(tài)電滯回線DHM

靜態(tài)電滯回線SHM

I-V特性

脈沖PUND

疲勞Fatigue

電擊穿強(qiáng)度BDM

漏電流LM

電流-偏壓

保持力RM

印跡印痕IM

THM模塊,變溫區(qū)間可選。



























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